Przejdź do treściPrzejdź do informacji o dostępności
Fizyka dla szkół wyższych. Tom 3

4.3 Dyfrakcja na podwójnej szczelinie

Fizyka dla szkół wyższych. Tom 34.3 Dyfrakcja na podwójnej szczelinie

4.3 Dyfrakcja na podwójnej szczelinie

Cel dydaktyczny

W tym podrozdziale nauczysz się:
  • opisywać łączny efekt interferencji i dyfrakcji na podwójnej szczelinie, z których każda szczelina jest o skończonej szerokości;
  • określać względne natężenia prążków interferencyjnych w obrębie obrazu dyfrakcyjnego;
  • identyfikować brakujące rzędy widma, jeśli takie istnieją.

Kiedy badaliśmy interferencję w eksperymencie Younga z podwójną szczeliną, zignorowaliśmy efekt dyfrakcyjny na każdej szczelinie. Założyliśmy, że szczeliny były tak wąskie, że na ekranie widać było interferencję światła z zaledwie dwóch źródeł punktowych. Jeśli szczelina jest mniejsza niż długość fali, to Ilustracja 4.10 (a) pokazuje, że światło się rozchodzi, i obserwujemy wyłącznie szeroki pik centralny o malejącym natężeniu, bez minimów i bocznych maksimów dyfrakcyjnych. Dlatego rozsądnie było wówczas nie uwzględniać efektu dyfrakcyjnego. Jeśli jednak zrobimy szerszą szczelinę, tak jak to pokazuje Ilustracja 4.10 (b) i (c), to nie można pomijać zjawiska dyfrakcji. W tej części zbadamy komplikacje, z jakimi mamy do czynienia w eksperymencie z dwiema szczelinami, gdy trzeba wziąć pod uwagę efekt dyfrakcyjny na każdej z nich.

Aby wyznaczyć obraz dyfrakcyjny dla dwóch (lub dowolnej liczby) szczelin, musimy uogólnić metodę, którą stosowaliśmy dla pojedynczej szczeliny. Oznacza to, że w każdej szczelinie umieszczamy źródła punktowe o jednolitym rozkładzie, emitujące fale wtórne (fale Huygensa), a następnie sumujemy te wychodzące ze wszystkich szczelin fale, co daje natężenie światła w dowolnym punkcie na ekranie. Chociaż szczegóły tych obliczeń mogą się wydać dosyć skomplikowane, to ostateczny wynik jest dość prosty.

Obraz dyfrakcyjny z dwóch szczelin

Obraz dyfrakcyjny z dwóch szczelin (ang. two-slit diffraction pattern) o szerokości D D, które znajdują się w odległości d d od siebie, jest złożeniem obrazu interferencyjnego otrzymanego z dwóch źródeł punktowych odległych od siebie o d d i obrazu dyfrakcyjnego ze szczeliny o szerokości D D.

Innymi słowy, położenia prążków interferencyjnych są dane równaniem d ⁢ sin θ = m ⁢ λ d ⁢ sin θ = m ⁢ λ , tak samo jak wtedy, gdy rozważamy szczeliny jako punktowe źródła, ale natężenia prążków są teraz zmniejszone przez efekty dyfrakcyjne, zgodnie z Równaniem 4.4. (Zauważmy, że w rozdziale o interferencji napisaliśmy d ⁢ sin θ = m ⁢ λ d ⁢ sin θ = m ⁢ λ i użyliśmy liczby całkowitej m m do numeracji prążków interferencyjnych. Równanie 4.1 również wykorzystuje symbole m m, ale tym razem odnoszą się one do minimów dyfrakcyjnych. Jeśli obu równań używa się równocześnie, dobrze jest stosować inną zmienną (taką jak n n) dla jednej z tych liczb całkowitych w celu ich odróżnienia).

Minima natężenia światła dla efektów interferencyjnych i dyfrakcyjnych występujących równocześnie powstają pod różnymi kątami. Na ekranie pojawia się skomplikowany obraz, w którym brakuje niektórych maksimów interferencyjnych pochodzących od obu szczelin, wówczas gdy maksimum interferencyjne występuje w tym samych kierunku co minimum dyfrakcyjne. Będziemy określać taki brakujący pik jako brakujący rząd (ang. missing order). Przykład takiego obrazu dyfrakcyjnego na ekranie jest pokazany na Ilustracji 4.11. Linia ciągła z wieloma pikami (maksimami) o różnych wysokościach odpowiada natężeniu obrazu obserwowanemu na ekranie, otrzymanego ze złożenia obrazu interferencji fal z oddzielnych szczelin i dyfrakcji fal na pojedynczej szczelinie.

Ilustracja 4.11 Dyfrakcja na podwójnej szczelinie. Purpurowa linia z pikami o tej samej wysokości opisuje obraz interferencji fal z dwóch szczelin; niebieska linia z jednym dużym garbem pośrodku opisuje obraz dyfrakcyjny otrzymany z pojedynczej szczeliny; gruba, czerwona linia, która opisuje obraz obserwowany na ekranie, jest ich złożeniem (iloczynem natężeń). Wykres przedstawia oczekiwany wynik dla szerokości szczeliny D=2⁢λD=2⁢λ D=2\lambda i odległości między szczelinami d=6⁢λd=6⁢λ d=6\lambda. Widoczny jest brak maksimum interferencyjnego dla m=±3m=±3 m=\text{}\pm 3, ponieważ w tym samym kierunku występuje minimum dyfrakcyjne.

Przykład 4.3

Intensywność prążków

Ilustracja 4.11 pokazuje, że natężenie prążka dla m = 3 m=3 wynosi zero, ale co z innymi prążkami? Obliczmy natężenie prążka dla m = 1 m=1 względem natężenia piku centralnego I 0 I 0 .

Strategia rozwiązania

Określimy kąt interferencji konstruktywnej na podwójnej szczelinie, posługując się wzorem z rozdziału Interferencja, a następnie ustalimy względne natężenie dla tego kąta określone przez dyfrakcję, korzystając z Równania 4.4.

Rozwiązanie

Z rozdziału o interferencji wiemy, że jasne prążki interferencyjne występują, gdy d ⁢ sin θ = m ⁢ λ d ⁢ sin θ = m ⁢ λ lub
sin θ = m ⁢ λ d . sin θ = m ⁢ λ d .

Z Równania 4.4 mamy

I = I 0 ⁢ sin β β 2 ⁢ , gdzie  ⁢ β = ϕ 2 = π ⁢ D ⁢ sin θ λ . I= I 0 ⁢ sin β β 2 ⁢ , gdzie  ⁢ β = ϕ 2 = π ⁢ D ⁢ sin θ λ .

Po podstawieniu z powyższego otrzymujemy

β = π ⁢ D ⁢ sin θ λ = π ⁢ D λ ⋅ m ⁢ λ d = m ⁢ π ⁢ D d . β= π ⁢ D ⁢ sin θ λ = π ⁢ D λ ⋅ m ⁢ λ d = m ⁢ π ⁢ D d .

Dla D = 2 ⁢ λ D= 2 ⁢ λ , d = 6 ⁢ λ d= 6 ⁢ λ i m = 1 m=1

β = π ⋅ 2 ⁢ λ 6 ⁢ λ = π 3 . β= π ⋅ 2 ⁢ λ 6 ⁢ λ = π 3 .

Stąd natężenie wynosi

I = I 0 ⁢ sin β β 2 = I 0 ⁢ sin π 3 π 3 2 = 0,684 ⁢ I 0 . I= I 0 ⁢ sin β β 2 = I 0 ⁢ sin π 3 π 3 2 = 0,684 ⁢ I 0 .

Znaczenie

Należy zauważyć, że takie podejście jest stosunkowo proste i daje wynik niemal dokładnie taki sam jak bardziej skomplikowana analiza dyfrakcji na podwójnej szczelinie i obliczanie wartości natężenia oświetlenia ekranu przy użyciu wskazów (cienka linia na Ilustracji 4.11). Metoda wskazów uwzględnia nachylenie w dół wykresu natężenia dyfrakcji (niebieska linia) tak, że pik w pobliżu m = 1 m=1 występuje dla wartości θ θ niewiele mniejszej, niż to tutaj pokazano.

Przykład 4.4

Dyfrakcja na podwójnej szczelinie

Załóżmy, że w eksperymencie Younga szczeliny o szerokości 0,02 ⁢ mm 0,02⁢mm są odległe od siebie o 0,2 ⁢ mm 0,2⁢mm. Jeśli szczeliny są oświetlone monochromatycznym światłem o długości fali 500 ⁢ nm 500⁢nm, to ile jasnych prążków obserwuje się w obszarze centralnego piku widma (obrazu) dyfrakcyjnego?

Rozwiązanie

Z Równania 4.1 wynika, że położenie kątowe pierwszego minimum dyfrakcyjnego wynosi

θ ≈ sin θ = λ D = 5 ⋅ 10 -7 ⁢ m 2 ⋅ 10 -5 ⁢ m = 2,5 ⋅ 10 -2 ⁢ rad . θ ≈ sin θ = λ D = 5 ⋅ 10 -7 ⁢ m 2 ⋅ 10 -5 ⁢ m = 2,5 ⋅ 10 -2 ⁢ rad .

Podstawiając sin θ = m ⁢ λ sin θ = m ⁢ λ dla θ = 2,5 ⋅ 10 -2 ⁢ rad θ= 2,5 ⋅ 10 -2 ⁢ rad , otrzymujemy

m=d⁢sinθλ=0,2⁢mm⋅2,5⋅10-2⁢rad5⋅10-7⁢m=10,m=d⁢sinθλ=0,2⁢mm⋅2,5⋅10-2⁢rad5⋅10-7⁢m=10, m=\frac{d\sin\theta}{\lambda}=\frac{\SI{0,2}{\milli\metre}\cdot\SI{2,5e-2}{\radian}}{\SI{5e-7}{\metre}}=\num{10}\text{,}

czyli tyle wynosi maksymalny rząd interferencji, który mieści się wewnątrz centralnego piku. Zauważamy, że m = ± 10 m= ± 10 są brakującymi rzędami dyfrakcji, jako że wartości θ θ dokładnie się zgadzają. W związku z tym obserwujemy jasne prążki dla

m = -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 + 1 + 2 + 3 + 4 + 5 + 6 + 7 + 8 + 9 , m = -9 -8 -7 -6 -5 -4 -3 -2 -1 0 + 1 + 2 + 3 + 4 + 5 + 6 + 7 + 8 + 9 ,

czyli w sumie 19 19 jasnych prążków.

Sprawdź, czy rozumiesz 4.3

W eksperymencie z Przykładu 4.4 pokaż, że m = 20 m=20 jest również brakującym rzędem dyfrakcji.

Materiały pomocnicze

Zbadaj efekty dyfrakcji na podwójnej szczelinie. W tej symulacji, napisanej przez Fu-Kwun Hwang, wybierz N = 2 N=2 za pomocą suwaka i sprawdź, co się dzieje, gdy zmieniasz szerokość szczeliny, odległość między szczelinami i długość fali. Czy możesz „zażądać” brakującego rzędu?

Cytowanie i udostępnianie
Ponowne wykorzystanie i redystrybucja tej treści w formacie cyfrowym lub drukowanym:
  • Ten podręcznik nie może być wykorzystywany do trenowania dużych modeli językowych ani w żaden inny sposób przetwarzany przez duże modele językowe lub rozwiązania generatywnej sztucznej inteligencji bez uprzedniej pisemnej zgody OpenStax Poland.
  • Ten podręcznik jest wydany na licencji Uznanie autorstwa (CC BY), co oznacza, że możesz ponownie wykorzystywać i modyfikować materiał wyłącznie w celach niekomercyjnych, musisz uznać autorstwo OpenStax Poland oraz musisz rozpowszechniać wszelkie utwory zależne na tej samej licencji.
  • Jakikolwiek komercyjny druk tego podręcznika, w tym z wykorzystaniem lokalnej lub niestandardowej drukarni, wymaga zgody OpenStax Poland oraz podania odpowiedniego cytowania.
  • Obrazy, aktywności, testy i podobne elementy tego podręcznika objęte prawami autorskimi OpenStax Poland podlegają tej samej licencji – CC-BY-NC-SA. Mogą być wykorzystywane w celach niekomercyjnych z uznaniem autorstwa. Użycie komercyjne wymaga zgody.
  • Prośby o zgodę: Każdy, kto zamierza włączyć tę treść (w tym tekst, obrazy i inne elementy) do dużych modeli językowych, wykorzystać ją w rozwiązaniach opartych na sztucznej inteligencji, użyć jej komercyjnie (w tym w druku) i/lub ma pytania dotyczące innego przypadku użycia, może skorzystać z naszego formularza wniosku o ponowne wykorzystanie.
Cytowanie i udostępnienia
  • Jeśli rozpowszechniasz tę książkę w formie drukowanej w celach niekomercyjnych, umieść na każdej jej kartce informację:
    Treści dostępne za darmo na https://openstax.org/books/fizyka-dla-szk%C3%B3%C5%82-wy%C5%BCszych-tom-3/pages/1-wstep
  • Jeśli rozpowszechniasz całą książkę lub jej fragment w formacie cyfrowym w celach niekomercyjnych, dla każdej strony zawierającej treści OpenStax musisz udostępnić utwór zależny na tej samej licencji CC-BY-NC-SA co oryginał oraz na każdym widoku strony umieścić informację:
    Treści dostępne za darmo na https://openstax.org/books/fizyka-dla-szk%C3%B3%C5%82-wy%C5%BCszych-tom-3/pages/1-wstep
Cytowanie

Poniższe informacje zawierają dane potrzebne do utworzenia cytowania w większości głównych stylów (APA, MLA itp.); musisz przeformatować i zorganizować te informacje zgodnie z wymaganiami danego stylu. Jeśli chcesz zacytować tę książkę, skorzystaj z dostępnych narzędzi do tworzenia wpisów bibliograficznych, jak np.: ten.

© 21 wrz 2022 OpenStax Poland. Treść książki została wytworzona przez OpenStax na licencji Uznanie autorstwa (CC BY). Nazwa OpenStax Poland i OpenStax, logo OpenStax Poland i OpenStax, okładki OpenStax Poland iOpenStax, nazwa OpenStax CNX oraz OpenStax CNX logo, jak również nazwa i logo Rice University oraz powiązane znaki towarowe i słowne, nie podlegają licencji Creative Commons i wykorzystanie ich jest dozwolone wyłącznie na mocy uprzedniego pisemnego upoważnienia przez Rice University.