Najważniejsze wzory
| Destruktywna interferencja dla pojedynczej szczeliny | |
| Połowa kąta fazowego | |
| Amplituda natężenia pola elektrycznego w obrazie dyfrakcyjnym | |
| Natężenie obrazu dyfrakcyjnego | |
| Kryterium Rayleigha dla okrągłych otworów | |
| Równanie Bragga |
| Destruktywna interferencja dla pojedynczej szczeliny | |
| Połowa kąta fazowego | |
| Amplituda natężenia pola elektrycznego w obrazie dyfrakcyjnym | |
| Natężenie obrazu dyfrakcyjnego | |
| Kryterium Rayleigha dla okrągłych otworów | |
| Równanie Bragga |
Treści dostępne za darmo na https://openstax.org/books/fizyka-dla-szk%C3%B3%C5%82-wy%C5%BCszych-tom-3/pages/1-wstep
Treści dostępne za darmo na https://openstax.org/books/fizyka-dla-szk%C3%B3%C5%82-wy%C5%BCszych-tom-3/pages/1-wstep
Poniższe informacje zawierają dane potrzebne do utworzenia cytowania w większości głównych stylów (APA, MLA itp.); musisz przeformatować i zorganizować te informacje zgodnie z wymaganiami danego stylu. Jeśli chcesz zacytować tę książkę, skorzystaj z dostępnych narzędzi do tworzenia wpisów bibliograficznych, jak np.: ten.
© 21 wrz 2022 OpenStax Poland. Treść książki została wytworzona przez OpenStax na licencji Uznanie autorstwa (CC BY). Nazwa OpenStax Poland i OpenStax, logo OpenStax Poland i OpenStax, okładki OpenStax Poland iOpenStax, nazwa OpenStax CNX oraz OpenStax CNX logo, jak również nazwa i logo Rice University oraz powiązane znaki towarowe i słowne, nie podlegają licencji Creative Commons i wykorzystanie ich jest dozwolone wyłącznie na mocy uprzedniego pisemnego upoważnienia przez Rice University.