Rozdz. 4 Kluczowe pojęcia - Fizyka dla szkół wyższych. Tom 3 | OpenStax

Przejdź do treści Przejdź do informacji o dostępności

Kluczowe pojęcia

brakujący rząd (ang. missing order): maksimum interferencyjne, które nie jest widoczne, ponieważ pokrywa się z minimum dyfrakcyjnym

dyfrakcja (ang. diffraction): uginanie się fal wokół krawędzi otworu lub przeszkody (zespół zjawisk związanych z uginaniem się fal wokół krawędzi otworu lub przeszkody i interferencją fal wtórnych)

dyfrakcja rentgenowska (ang. X-ray diffraction): technika, która daje szczegółowe informacje o strukturze krystalograficznej materiałów naturalnie występujących w przyrodzie i wytworzonych sztucznie

dyfrakcyjna granica rozdzielczości (ang. diffraction limit): ograniczenie rozdzielczości z powodu dyfrakcji

holografia (ang. holography): proces wytwarzania hologramów za pomocą laserów

hologram (ang. hologram): trójwymiarowy obraz zarejestrowany na kliszy za pomocą wiązki laserowej; dosłownie słowo to oznacza cały obraz (z gr. holo, podobnie jak w słowie „holistyczny”)

interferencja destruktywna na pojedynczej szczelinie (ang. destructive interference for a single slit): występuje, gdy szerokość szczeliny jest porównywalna z długością fali oświetlającego ją światła

kryterium Rayleigha (ang. Rayleigh criterion): dwa obiekty punktowe są rozróżnialne, gdy środek obrazu dyfrakcyjnego jednego z nich wypada bezpośrednio w miejscu pierwszego minimum dyfrakcyjnego drugiego

obraz dyfrakcyjny na podwójnej szczelinie (ang. two-slit diffraction pattern): obraz dyfrakcyjny uzyskany z dwóch szczelin o szerokości $D$ , które znajdują się w odległości $d$ od siebie, jest złożeniem obrazu interferencyjnego pochodzącego z dwóch źródeł punktowych odległych od siebie o $d$ i obrazu dyfrakcyjnego ze szczeliny o szerokości $D$

płaszczyzny Bragga (ang. Bragg planes): rodziny płaszczyzn (sieciowych) wewnątrz kryształów, które mogą powodować dyfrakcję rentgenowską

rozdzielczość (ang. resolution): zdolność – lub jej ograniczenie – rozróżniania szczegółów w obrazach

siatka dyfrakcyjna (ang. diffraction grating): wiele równomiernie rozmieszczonych równoległych szczelin

szerokość centralnego piku (ang. width of the central peak): kąt pomiędzy minimami dla $m = 1$ i $m = -1$

Poprzednia Następna

Cytowanie i udostępnianie

Ponowne wykorzystanie i redystrybucja tej treści w formacie cyfrowym lub drukowanym:

Ten podręcznik nie może być wykorzystywany do trenowania dużych modeli językowych ani w żaden inny sposób przetwarzany przez duże modele językowe lub rozwiązania generatywnej sztucznej inteligencji bez uprzedniej pisemnej zgody OpenStax Poland.
Ten podręcznik jest wydany na licencji Uznanie autorstwa (CC BY), co oznacza, że możesz ponownie wykorzystywać i modyfikować materiał wyłącznie w celach niekomercyjnych, musisz uznać autorstwo OpenStax Poland oraz musisz rozpowszechniać wszelkie utwory zależne na tej samej licencji.
Jakikolwiek komercyjny druk tego podręcznika, w tym z wykorzystaniem lokalnej lub niestandardowej drukarni, wymaga zgody OpenStax Poland oraz podania odpowiedniego cytowania.
Obrazy, aktywności, testy i podobne elementy tego podręcznika objęte prawami autorskimi OpenStax Poland podlegają tej samej licencji – CC-BY-NC-SA. Mogą być wykorzystywane w celach niekomercyjnych z uznaniem autorstwa. Użycie komercyjne wymaga zgody.
Prośby o zgodę: Każdy, kto zamierza włączyć tę treść (w tym tekst, obrazy i inne elementy) do dużych modeli językowych, wykorzystać ją w rozwiązaniach opartych na sztucznej inteligencji, użyć jej komercyjnie (w tym w druku) i/lub ma pytania dotyczące innego przypadku użycia, może skorzystać z naszego formularza wniosku o ponowne wykorzystanie.

Cytowanie i udostępnienia

Jeśli rozpowszechniasz tę książkę w formie drukowanej w celach niekomercyjnych, umieść na każdej jej kartce informację:
Treści dostępne za darmo na https://openstax.org/books/fizyka-dla-szk%C3%B3%C5%82-wy%C5%BCszych-tom-3/pages/1-wstep
Jeśli rozpowszechniasz całą książkę lub jej fragment w formacie cyfrowym w celach niekomercyjnych, dla każdej strony zawierającej treści OpenStax musisz udostępnić utwór zależny na tej samej licencji CC-BY-NC-SA co oryginał oraz na każdym widoku strony umieścić informację:
Treści dostępne za darmo na https://openstax.org/books/fizyka-dla-szk%C3%B3%C5%82-wy%C5%BCszych-tom-3/pages/1-wstep

Cytowanie

Poniższe informacje zawierają dane potrzebne do utworzenia cytowania w większości głównych stylów (APA, MLA itp.); musisz przeformatować i zorganizować te informacje zgodnie z wymaganiami danego stylu. Jeśli chcesz zacytować tę książkę, skorzystaj z dostępnych narzędzi do tworzenia wpisów bibliograficznych, jak np.: ten.

Autorzy: William Moebs, Samuel J. Ling, Jeff Sanny
Wydawca/strona internetowa: OpenStax Poland
Tytuł książki: Fizyka dla szkół wyższych. Tom 3
Data publikacji: 11 cze 2018
Miejscowość: Warszawa
URL książki: https://openstax.org/books/fizyka-dla-szk%C3%B3%C5%82-wy%C5%BCszych-tom-3/pages/1-wstep
URL fragmentu: https://openstax.org/books/fizyka-dla-szk%C3%B3%C5%82-wy%C5%BCszych-tom-3/pages/4-kluczowe-pojecia

© 21 wrz 2022 OpenStax Poland. Treść książki została wytworzona przez OpenStax na licencji Uznanie autorstwa (CC BY). Nazwa OpenStax Poland i OpenStax, logo OpenStax Poland i OpenStax, okładki OpenStax Poland iOpenStax, nazwa OpenStax CNX oraz OpenStax CNX logo, jak również nazwa i logo Rice University oraz powiązane znaki towarowe i słowne, nie podlegają licencji Creative Commons i wykorzystanie ich jest dozwolone wyłącznie na mocy uprzedniego pisemnego upoważnienia przez Rice University.